원광대 윤권하 교수(사진)가 인체에 유해한 중금속의 함유도를 손쉽게 분석할 수 있는 'X선 형광분석기' 개발에 성공했다.

7일 과학기술부(부총리 김우식)에 따르면 윤 교수에 의해 이번에 개발된 ‘X-선 형광분석기’는 인체에 유해한 6대 중금속인 납(Pb), 수은(Hg), 카드뮴(Cd), 6가 크롬(Cr 6+), 브롬계 난연제(PBBs, PBDEs)을 정성 정량 분석해 국제 환경협약 및 환경규제 기준의 적합성을 판단할 수 있다.

이 기기가 측정하는 유해 중금속은 전기전자제품 폐기지침(WEEE) 등 4개 지침, 전기전자제품 폐기지침(WEEE), 유해화학물질 사용제한지침(RoHS), 에너지사용 제품 친환경설계 규정(EuP), 자동차 폐차 처리지침(ELV)에 의해 규제되고 있다.

개발된 장치의 핵심기술은 나노급 X-선 광학소자인 X-선 다층 박막거울(Multi-Layer Mirror)이다. 나노수준의 박막을 수십층으로 쌓아 엑스선을 반사시키는 거울을 만들어 단색광 엑스선을 생성하고, 이 엑스선과 측정대상 물질과의 반응에서 나오는 원소정보를 0.1ppm이하의 초고감도로 분석할 수 있는 기술을 확보하게 됐다.

이 기술은 국내외에 특허출원 됐으며 미국에서 열린 덴버 X-선 컨퍼런스에서 전세계 관련전문가들에게 소개됐다.

이번 기술개발을 통해 중금속의 함유량과 토양성분 분석, 농수산물의 중금속 오염분석, 도금 및 필름의 정밀 두께측정 및 초미세 원소의 극미량변화 관찰기반기술이 확보됐다고 과학기술부는 밝혔다.

한편 이번 개발은 전량 수입에 의존하는 국내 관련기기의 수입대체(연간 200억원 수준, '06년말 기준) 효과와 연 1조원이상 규모의 세계 X-선 분석기기 시장에 진입할 수 있는 발판을 마련한 것으로 평가되고 있다.